技術資料
本項では膜厚計に関係した用語、膜厚測定のロジック他、関連した資料を載せています。用語の意味や膜厚測定の仕組み、その他技術的な情報が必要な方はぜひご覧ください。
光学測定に関するJIS規格一覧
| 名称 | 概要 | JIS規格 |
|---|---|---|
| 全光線透過率及び全光線反射率 | プラスチック材料について、可視領域における全光線透過率及び全光線反射率を測定します。 透明材料の全光線透過率については、シングルビーム測光器を用いる方法も規定されています。 | JIS K 7375 JIS K 7361-1 |
| 鏡面光沢度 | 試料表面に光を照射し、鏡面反射方向に反射する光の強さから表面の光沢を数値化します。 プラスチック製品や塗膜、紙、金属など、さまざまな材料の表面評価に用いられます。 | JIS Z 8741 JIS K 5600-4-7 |
| 屈折率 | 成形品、シート、フィルムなどを屈折率計で測定する方法と、 粉体や粒状材料を顕微鏡による液浸法で測定する方法があります。 | JIS K 7142 |
| 曇り度(ヘーズ) | 透明材料を透過する光のうち、材料の内部や表面で広角に散乱する光の割合を測定し、 材料の曇りや透明性を評価します。 | JIS K 7136 JIS K 7361-1 |
曇り度(ヘーズ)は、透明材料を透過する光のうち、材料の内部や表面で散乱した光が占める割合を示す指標です。従来は「プラスチックの光学的特性試験方法(JIS K 7105)」に規定された積分球式光線透過率測定装置(図a)による測定が一般的でしたが、JIS K 7105は廃止され、現在は「プラスチック-透明材料のヘーズの求め方(JIS K 7136)」及び「プラスチック-透明材料の全光線透過率の試験方法-第1部:シングルビーム法(JIS K 7361-1)」に基づく測定が用いられています(図b)。なお、曇り度(ヘーズ)は次式によって求められます。
JIS K 7136、JIS K 7361-1、ISO 14782、ISO 13468-1
膜厚計担当者による雑記
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CCDセンサとCMOSセンサ
反射分光式膜厚計とCCDセンサ、CMOSセンサが関係あるのかと思われた方も
いらっしゃると思いますが、関係は大いにあります。
CCDセンサもCMOSセンサも「イメージセンサ」と呼ばれるものです。
イメージセンサとは光センサと呼ばれる物の一種で光の強度を検出して電気信号に変換するセンサになります。・・・・
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